半導體冷熱探針臺，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環境下電學性能，也可用變溫光學測試、變溫電學測試、材料表征等分析。廣泛應用于半導體電學性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業的制造和研究領等系統中的重要部件。

產品型號：HB25

更新時間：2025-10-23

廠商性質：生產廠家

訪問量：496

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

產品介紹

半導體冷熱探針臺特點：

★ 升溫速度可精確控制，精度達±0.25℃

★ 體積小巧，占地空間小

★ 無噪聲、無振動、體積小、重量輕

★ 支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備

★ 模塊化設計，可根據客戶要求定制

★ 無需液氮制冷耗材

用途：

半導體冷熱探針臺測試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環境下電學性能，也可用變溫光學測試、變溫電學測試、材料表征等分析。廣泛應用于半導體電學性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業的制造和研究領等系統中的重要部件。

產品規格參數：

項目	訂貨代碼	HB24-4	HB24-6
主體	HB25-4 （4探針）	腔體材質：AL6061(可定制SUS304腔體) 密封方式：氟膠圈抽氣口:KF16 電信采集接口：標配BNC接口腔體進氣口：6mm(特殊可定制) 腔體外尺寸：110mm×100mm×38mm 樣品臺尺寸：φ35mm 樣品觀察窗：φ35mm 通光口：φ3mm
	HB25-6 （6探針）
探針組件（單組價格）	V2	真空型同軸接口探針夾具（普通型，需要抽真空時選擇）
	V3	真空型三軸接口探針夾具（抗干擾性強，應用于半導體，需要抽真空時選擇）
探針規格	000T	鍍金，50μm(可選：1μm、5μm、10μm、20μm、50μm、100μm、200μm) 例：010T代表10μm尺寸的探針。

信號線纜	R1	單頭甩空線
	R2	雙頭線
水冷機	W	溫度高于200℃范圍需要配置水冷機
溫控系統	CL	高溫控制器CL200:-35℃～120℃，控制精度±0.25℃，分辨率0.1℃
真空系統	MP	機械泵（飛躍）:2.2L/S(真空度1*10-1Pa)（不包含真空計）
	TP	分子泵組（Leybold）:90L/S(真空度510-5Pa) 復合真空計（Leybold ):PTR90(大氣至510-7Pa)主體需要采用不銹鋼材質，才能抽到高真空

顯微鏡	PM	體式顯微鏡:ZOOM645S（環形光源）
	CM	CCD：200萬像素
	DP	戴爾顯示器：21寸
	SJ	視頻顯微鏡+10寸顯示屏（100萬像素）